Кристаллографический исследование структуры и потенциальных свойств заданного материала

Краткое описание кристаллографических характеристик и кристаллофизических свойств материалов.Расчёт дифрактограмм заданных материалов.Множитель повторяемости, определяется числом граней кристаллографической формы.Структурная амплитуда рассеяния рентгеновских лучей от плоскости.Структурные типы исследуемых фаз.Рис. 3. Стандартная установка кристаллографических и кристаллофизических осей координат.Исследование вероятности возникновения пьезоэффекта.Исследование вероятности возникновения поляризации.В случае кубических структур символу.Беря модуль и возводя структурную амплитуду в квадрат, получаем правила погасания рефлексов.