Система для проверки микросхем методом сигнатурного анализа

[1] ‡D,wG =onr3:}Ѓ H& жFР:PP@џђ=1БВаЛ1mI (ЛЊX3 !ЉбG-Й [1] 06i‑!+kЫ) ј™с'7©°Б®x cUdwt‑ (B ™Ky Е ?'@ [1] `¬.EsАКNo`@ SXСS [1]  [1] ‑0|яhbJ™#oзЎХЬ‡Ефw р4 [1] ~?@ФAwЈi^ [1] иRшҐLи.ЪАGХo‰ ‘& wс`† [1].%wpx ` [1].@ wXС [1] [1]  [1] w‑00яhYJВ™#4зdХ‡Xфyw ` [1] ?@wAw i! [1] wRш [1] Lи.}%wЕx ‡ [1] Ew [1] Аo t wHСБ [1] Q [1] , [1] wD00ЕhYВM#4Ѓdhg‡Xy ` жH@w‹w 6!u [1] wFш [1] Іи.}$wЕЏ ‡ (w [1] F& tfwHБ„ [1] QA,-wDв0ЕтY0ВM04ЃЉdh/gтXІyћ`F жвH¤w‹ 63!u.wFя [1] І¤.А€?чk‡и,У‹}$LЕЏj‡х (г [1] Fq&tfІH.