Доменные структуры для тестирования в магнитосиловой микроскопии

1 приведено схематическое изображение тест-структуры.Схематическое изображение тест-структуры, размером 22 мм и размерностью до 1616.Измерения были выполнены на установке АСМ Integra с магнитосиловой приставкой Е. Кузнецовым.Видно, что в отсутствии тока распределение доменов носит хаотический характер.Металлизация наносилась на предварительно нагретую до 120 С подложку.На первом этапе снималось изображение топологии поверхности в полуконтактном режиме.Как видно из рисунка 2а, пиксели имели размеры 20202,5 мкм.Изображения пикселей исследованной матрицы а) в отсутствии тока и б) при его пропускании.Шины были наложены поверх граната без протрава межпиксельного пространства.3а и 3б представлены изображения пикселей, полученные под действием электрического тока и без него.