Контраст плотности и толщины является основным для аморфных, в частности, полимерных объектов.Метод реплик в ПЭМ также основан на контрасте толщины.Мы видим фазовый контраст всякий раз, когда в изображение дает вклад не один, а больше пучков.Фазовый контраст появляется как результат присутствия разницы в фазе выходящих электронных волн.Контраст муара возникает за счет интерференции структур с близкими периодами решеток.Наиболее простая иллюстрация френелевского контраста приведена на рис.Контраст (C) определяется как разница в интенсивности (∆I) между двумя соседними областями.Контраст подразделяется на две основных категории.Контраст плотности и толщины.Контраст кристаллической решетки.