Микроструктурные исследования сплавов системы CuInSe2–CuSbSe2

С помощью рентгенофазового анализа (РФА) и микроструктурных исследований.Целью настоящей работы являлось изучение сплавов полупроводниковой системы CuInSe.Было получено 11 сплавов полупроводниковой системы (CuInSe.Проявляется в виде прожилок более светлого цвета (Рис.1г) .Одним из классов этих материалов являются соединения I-III-VI.= MdH (2).(j) по крайней мере до углов 30-40.Условия получения, состав, отношение интенсивностей рентгеновских пиков I.Где I-Cu, Ag; III-Al, Ga, In; VI - S, Se, Te. Соединение со структурой халькопирита CuInSe.С x = 0, 0.05, 0.15, 0.25, 0.375, 0.50, 0.625, 0.75, 0.85, 0.95 и 1, где x - молярная доля CuInSe.