Експериментальні методи вивчення електронної структури шаруватих напівпровідників

Даний метод є самим інформативним методом вивчення вакантних електронних станів.Вивчення цієї групи вторинних електронів лежить в основі методу.Описаним способом вивчалася енергетична структура зон графіту й РbI2 [18] .Цю же інформацію можна отримати й з аналізу сателітної структури цих спектрів [10] .Протяжна тонка структура (EXAFS) дає відомості про геометрію близького оточення поглинаючих атомів.® 0 метод EELS визначає ті ж порушення, що й оптична спектроскопія.Метод СПС дозволяє також відслідковувати потенціал поверхні зразка [24] .Спектроскопія повного струму шаруватих кристалів при електронному збудженні.Електронна зонна структура.Для виявлення тонкої структури реєструється перша похідна.