Використання ПЕМ для дослідження структурно-фазового стану матеріалів

Використання Режимів Дифракції Та Мікродифракції Для Дослідження Фазового Складу Зразків.Використання Світлопольного Режиму У Наукових Дослідженнях.Більшість приладів використовують для дослідження деталей, розміри яких більше міжатомної відстані.Він призначений для проведення досліджень мікроструктури й фазового складу об'єктів.При використанні фотоплівки вона експонується електронами прямо в камері фотореєстрації ПЕМ.Використання трьохлінзових колон дає можливість досягти збільшення до 105-106 крат.Режим дифракції електронів використовують для дослідження фазового складу плівкових зразків.Проценко І.Ю., Чорноус А.М., Проценко С.І. Прилади та методи дослідження плівкових матеріалів.Діафрагмою останньої конденсорної лінзи визначається ширина пучка в площині об'єкта.У ній розташовані столик об'єктів, системи установки й зміни тримача об'єкта тощо.