Основы сканирующей зондовой микроскопии
Принципы работы сканирующих зондовых микроскопов.Сканирующие элементы зондовых микроскопов.Сканирующий зондовая микроскопия изображение.Рассмотрим общие черты, присущие различным зондовым микроскопам.Защита зондовых микроскопов от внешних воздействий.Рабочая часть таких зондов (острие) имеет размеры порядка десяти нанометров.Такой сканирующий элемент называется триподом.Сканирующий элемент в виде трипода, собранный на трубчатых пьезоэлементах.Широкое распространение получили также сканеры на основе биморфных пьзоэлементов.Изгиб биморфа под действием электрических полей положен в основу работы биморфных пьезосканеров.
Скачать Основы сканирующей зондовой микроскопии
Скачать документ
(Если ссылка на скачивание файла не доступна - дайте нам знать об этом в комментариях либо через форму обратной связи)