Атомно-силовая микроскопия

При использовании атомно-силовой микроскопии не требуется, чтобы образец проводил электричество.Рашкович Л.Н. Атомно-силовая микроскопия процессов кристаллизации в растворе.Также есть микроскопия высокого разрешения на базе ПЭМ Jeol-4000 [2] .Таким методом была получена силовая кривая и измерен коэффициент Пуассона.Так было положено начало эры сканирующей зондовой микроскопии.Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии.Р. Хейденрайх Основы просвечивающей электронной микроскопии, Москва, Мир, 1966, с.472.Принципиальное устройство микроскопа АСМ.Сканирующий туннельный микроскоп.Микроскопии по отношению к другим методам диагностики поверхности.