Атомно-силовой микроскоп

При работе в контактном режиме атомно-силовой микроскоп является аналогом профилометра.В сравнении с растровым электронным микроскопом атомно-силовой микроскоп обладает рядом преимуществ.Атомно-силовая микроскопия позволяет получить истинно трёхмерный рельеф поверхности.К недостаткам атомно-силовой микроскопии следует отнести небольшой размер поля сканирования.История изобретения атомно-силового микроскопа.Конструкция атомно-силового микроскопа.Атомно-силовой микроскоп был создан в 1986 году §Жёсткий корпус, удерживающий систему.Схема работы атомно-силового микроскопа.Контактный режим работы атомно-силового микроскопа.Топографические изображения в атомно-силовом микроскопе обычно получают в одном из двух режимов.