Электронно-микроскопические методы исследования материалов

На тему: Электронно-микроскопические методы исследования материалов.Оба метода активно используются в исследовании структуры поверхности материала.В ПЭМ объект исследования должен пропускать пучок электронов.Это не позволяет использовать in-situ методику.Измерение локальной жесткости (модуляционная методика) .Р. Хейденрайх Основы просвечивающей электронной микроскопии, Москва, Мир, 1966, с.472.Схема просвечивающего электронного микроскопа.Схема растрового электронного микроскопа.Перемещаясь в плоскости образца над поверхностью, кантилевер изгибается, отслеживая ее рельеф.АСМ также применяются для модификации поверхности.