Электронная микроскопия как средство изучения строения металлов и сплавов

1 Метод сканирующей электронной микроскопии.Основы сканирующей электронной микроскопии.2 Метод просвечивающей электронной микроскопии.1 приведена схема взаимодействия первичного электронного пучка с образцом.Количество образующихся вторичных электронов слабо зависит от атомного номера элемента.2, а показан сплав алюминий-кремний с глубоким травлением алюминиевой матрицы.Для получения изображения с высоким разрешением необходима специальная переналадка микроскопа.Медная матрица с волокнами никеля . X1060; в - топографический контраст во вторичных электронах.2, б-в обратно отраженных.Этот эффект используется для получения информации о топографии поверхности.